美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀(yí)為(wéi)測量(liáng)串行數據(jù)係(xì)統的信號完整(zhěng)性提供了(liǎo)全新的方式。
關(guān)鍵字(zì):BSA175C,BSA175C誤(wù)碼率測試(shì)儀,美國Tektronix(泰克)誤(wù)碼(mǎ)率(shuài)測(cè)試儀
美(měi)國Tektronix
美國(guó)Tektronix(泰(tài)克) BSA175C誤碼(mǎ)率(shuài)測(cè)試(shì)儀為測(cè)量串行數據係統的信號完整性提供了全新的(dí)方(fāng)式。
美(měi)國Tektronix(泰(tài)克) BSA175C產品簡介:
•BERTScope™誤碼(mǎ)率(shuài)測試儀係列(liè)為測量串行(háng)數據係統的(dí)信(xìn)號完整性提供了(liǎo)全(quán)新(xīn)的(dí)方(fāng)式
•將眼圖分(fēn)析與BER碼型生(shēng)成結合(hé)起(qǐ)來,使(shǐ)誤(wù)碼率(shuài)檢測更(gēng)快(kuài),更準確,更*麵(miàn)
•BERTScope™誤(wù)碼(mǎ)率(shuài)測(cè)試(shì)儀係(xì)列可方便隔(gé)離問題(tí)字節和(hé)碼(mǎ)型(xíng)序(xù)列,然(rán)後使用(yòng)七種厲(lì)害(hài)誤(wù)碼分析(xī)功(gōng)能(néng),進一步展開分(fēn)析,提(tí)供(gōng)前*有未的統計測(cè)量(liáng)深度
•高達(dá)28.6 Gb/s 的碼型發生,誤碼分(fēn)析和(hé)BER 測(cè)試能力(lì)
•經(jīng)校(xiào)準(zhǔn)的(dí)集(jí)成經校(xiào)準(zhǔn)的(dí)集(jí)成壓(yā)力(lì)生成技(jì)術(shù),滿足多(duō)種(zhǒng)標(biāo)準壓力(lì)接(jiē)收機靈敏度(dù)和時鐘恢復抖(dǒu)動容限測試(shì)要求
•擴(kuò)展頻(pín)譜時(shí)鐘
•PCIe 2.0和3.0接(jiē)收機測試(shì)
•IEEE 802.3ba和(hé)32G光(guāng)纖(xiān)通道(dào)測(cè)試(shì)
•碼型(xíng)生成和(hé)誤(wù)碼分析,高達28.6 Gb/秒(miǎo)的高速BER測(cè)量
•集成的(dí)壓(yā)力發(fā)生(shēng)器用於受(shòu)壓(yā)眼(yǎn)圖靈敏度(SRS)和抖動容(róng)限一(yī)致(zhì)性(xìng)測試(shì)
•集(jí)成的BER關聯眼圖分析,並提(tí)供(gōng) PCI Express,USB,SATA和(hé)其他通信標準的通(tōng)過/不(bù)通過(guò)模板(bǎn)
•在(zài)PRBS 31及高達28.6 Gb/秒的(dí)其(qí)它(tā)數(shù)字(zì)信(xìn)號(hào)上進行誤(wù)碼(mǎ)定位(wèi)和BER輪(lún)廓(kuò)分析(xī)
•選配抖(dǒu)動分離及(jí)定位功能(néng)可以在 DUT 輸(shū)入上(shàng)快速(sù)進行抖動分(fēn)解,準確(què)進行壓力校準
•可(kě)選的數(shù)字(zì)預加重處(chǔ)理器(qì)在(zài)碼(mǎ)型發生(shēng)器(qì)提供的(dí)數據(jù)上提(tí)供(gōng)用(yòng)戶控製(zhì)的(dí)預加(jiā)重(zhòng)
•可選的(dí)時鐘(zhōng)恢復(fù)單元(yuán)提(tí)供很(hěn)大 28.6 Gb/s 的(dí)時(shí)鐘恢(huī)復(fù)
美(měi)國Tektronix(泰克(kè)) BSA175C誤碼(mǎ)率測試儀(yí)產品(pǐn)特點(diǎn):
•在(zài)一台(tái)儀器中(zhōng)同時(shí)提供(gōng)生成(chéng)和(hé)分(fēn)析功(gōng)能,為當今(jīn)的(dí)第三代串(chuàn)行(háng)和(hé)IEEE802.3ba,32GFC通(tōng)信標(biāo)準(zhǔn)提(tí)供(gōng)接(jiē)收(shōu)機BER一(yī)致性測(cè)試(shì)
•測試信號的(dí)數據速率,應(yīng)用的壓(yā)力(lì)和(hé)數(shù)據(jù)碼型都(dū)可以隨時(shí)更改且彼此獨(dú)立,允許多種信號(hào)變化來(lái)測試芯片組(zǔ)/係統(tǒng)靈敏度(dù)
•與(yǔ)其它BERT不同(tóng),提供熟(shú)悉(xī)的(dí)測試結(jié)果眼(yǎn)圖,並與標準(zhǔn)特定(dìng)的模板(bǎn)進行(háng)對(duì)比,增強(qiáng)調(tiáo)試體(tǐ)驗
•通(tōng)過(guò)BER迅速了解信號(hào)完(wán)整性(xìng)。誤碼定位(wèi)提供了(liǎo)詳(xiáng)細的BER碼型靈敏(mǐn)度(dù),加(jiā)快了(liǎo)確定性與(yǔ)隨機性 BER 誤(wù)碼的識(shí)別(bié)
•用三角測量(liáng)法快速有(yǒu)效地(dì)確定長(cháng)碼型 PRBS31 抖動結(jié)構圖形(xíng)表(biǎo)示讓(ràng)抖動分(fēn)析(xī)更*麵,跟進更(gēng)簡單
•可以使用PCI Express,10GBASE-KR,SATA,40GBASE-KR4,100GBASE-CAUI標準(zhǔn)信號進(jìn)行(háng)測(cè)試
•根據(jù)高速(sù)串(chuàn)行和通(tōng)信係統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)行(háng)一致性測試(shì)及準(zhǔn)確(què)的(dí)眼圖分(fēn)析(xī)
•抖動裕(yù)量(Margin)測試,抖(dǒu)動容限一致性模板測試(shì)
•快(kuài)速輸(shū)入上(shàng)升(shēng)時間/高輸(shū)入帶寬錯誤檢測器(qì),準確(què)分析(xī)信號(hào)完整性(xìng)
•物理層測試(shì)套件,支(zhī)持(chí)模板測(cè)試,抖(dǒu)動峰(fēng)值(zhí),BER輪廓和Q因(yīn)子分析(xī),使(shǐ)用標準或(huò)用戶(hù)自定義抖動容(róng)限模板(bǎn)庫進行(háng)*位測試
•集(jí)成(chéng)的眼(yǎn)圖和BER相關(guān)分析
•專(zhuān)有的誤碼定(dìng)位(wèi)分析技(jì)術(shù),迅速了(liǎo)解BER性能限製(zhì),評估確(què)定性(xìng)誤碼與隨機性(xìng)誤碼(mǎ)
•執(zhí)行詳細的碼型相(xiāng)關誤(wù)碼(mǎ)分析,執行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔(gé)分(fēn)析(xī)
美(měi)國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼(mǎ)率測(cè)試儀(yí)產品(pǐn)應用(yòng):
•設計驗證(zhèng)包括(kuò)信號(hào)完整(zhěng)性,抖動和時序分析(xī)
•對高速(sù)串行(háng)係(xì)統(tǒng),復(fù)雜設(shè)計(jì)的(dí)性能測試
•串行(háng)數據(jù)流和(hé)高性能(néng)網絡係統認(rèn)證測(cè)試(shì)
•設計(jì)/ 驗(yàn)證高速I/O 組件和係統
•信號完整(zhěng)性(xìng)分析- 模(mó)板(bǎn),峰值(zhí)抖(dǒu)動(dòng),BER 輪(lún)廓,抖(dǒu)動(dòng)分離(lí)及(jí)定位(Jitter Map)和(hé)Q因(yīn)子(zǐ)分(fēn)析
•設(shè)計/ 驗證光(guāng)發(fā)射接(jiē)收機
美(měi)國Tektronix(泰(tài)克) BSA175C誤碼(mǎ)率(shuài)測試儀(yí)技術參(cān)數(shù):
| 特性 | 說明 | |
|---|---|---|
| 數據(jù)輸出 | 數據(jù)率範(fàn)圍 | |
| BSA85C | 0.1-8.5 Gb/s | |
| BSA125C | 0.1-12.5 Gb/s | |
| BSA175C | 0.5-17.5 Gb/s | |
| BSA260C | 1-26 Gb/s | |
| BSA286C | 1-28.6Gb/s | |
| 碼(mǎ)型格(gé)式 | NRZ | |
| 很性 | 正(zhèng)常(cháng)或反相(xiāng) | |
| 可(kě)變交(jiāo)叉(chā)點電(diàn)平範(fàn)圍 | 25 to 75% | |
| 碼(mǎ)型 | ||
| 硬件碼型(xíng) | 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的(dí)PRBS碼型: 2n – 1 where n = 7, 11, 15, 20, 23, 31 | |
| RAM 碼(mǎ)型(xíng) | ||
BSA85C | 128位~128Mb 每個A/B 頁麵中A 或B各有32Mb,共兩組A/B 頁(yè)麵(miàn)。單頁麵(miàn)很大128Mb | |
| 碼型數據庫 | 基於(yú)K28.5 或(huò)CJTPAT 碼(mǎ)型的SONET/SDH, Fibre Channel 碼(mǎ)型; 2n 碼(mǎ)型(xíng),n=3,4,5,6,7,9; 2n標(biāo)記密(mì)度碼(mǎ)型, n=7,9,23;其(qí)他 | |
| 誤(wù)碼插(chā)入(rù) | ||
| 長度 | 1,2,4,8,16,32,64 長度突(tū)發序列 | |
| 頻率 | 單詞(cí)或者重復 | |
| 數(shù)據 時鐘(zhōng) 幅度(dù) | 配(pèi)置 | 差分(fēn)輸出(chū),差分(fēn)每一(yī)路可獨(dú)立(lì)設置(zhì)端接(jiē),幅度和偏置(zhì) |
| 接口 | DC 耦(ǒu)合,50 歐姆反向端(duān)接。APC-3.5 連接器 可選校準到(dào)75歐(ōu)姆端接,其他阻抗通(tōng)過(guò)麵板輸入(rù) 可(kě)更(gēng)換的(dí)Planar Crown適配器,可(kě)換(huàn)為(wéi)其他類(lèi)型連(lián)接(jiē)器(qì) | |
| 預設(shè)邏輯電平 | LVPECL, LVDS, LVTTL, CML, ECL, SCFL | |
| 端接電(diàn)壓(yā) | –2V ~ 2V 預設(shè)值:1.5V,1.3V,1.0V,-2V,AC 耦(ǒu)合 | |
| 允(yǔn)許(xǔ)的幅度,端(duān)接(jiē)和(hé)偏置電壓(yā) | ||
| 時鐘/數據延遲(chí) | 範(fàn)圍 | (以(yǐ)下(xià)情況全部大於(yú)1比特周期) |
| ≤ 1.1GHz | 30ns | |
| > 1.1GHz | 3ns | |
| 分(fēn)辨率 | 100fs | |
| 自校率 | 在時間(jiān)測量時(shí),當(dāng)溫度或者(zhě)比(bǐ)特(tè)率改(gǎi)變,推薦進行儀器自校(xiào)準,校(xiào)準過(guò)程小於10s | |
| 外部(bù)時(shí)鐘輸入(rù) | 頻率(shuài)範(fàn)圍 | |
| BSA85C | 0.1 to 8.5GHz | |
| BSA125C | 0.1 to 12.5GHz | |
| BSA175C | 0.5 to 17.5GHz | |
| BSA260C | 1 to 26GHz | |
| BSA286C | 1 to 28.6GHz | |
| 定(dìng)額功率(shuài) | 900mVpp (+3dBm) | |
| 很大(dà)功率(shuài) | 2.0Vpp (+10dBm) | |
| 回波損耗 | 優(yōu)於 –6dB | |
| 接(jiē)口 | 50 歐姆(mǔ)SMA 母頭,DC 耦合(hé),可選的(dí)端(duān)機電壓 | |
| 子速(sù)率 時鐘輸出(chū) | 頻率(shuài)範(fàn)圍 | 0.125到(dào)3.125GHz(STR 選項(xiàng)可到(dào)12.5GHz) |
| 幅(fú)度範(fàn)圍 | 額定電壓(yā)1Vp-p,偏置(zhì)0V | |
| 跳(tiào)變(biàn)時間 | <500ps | |
| 接口(kǒu) | SMA 母頭, 50 歐姆(mǔ), DC 耦合, 端接(jiē)電壓0V | |
| 觸發輸出 | 很(hěn)小脈衝(chōng)寬(kuān)度(dù) | 128 個(gè)時鐘周期(qī)(模式1) |
| 跳(tiào)變(biàn)時(shí)間 | <500ps | |
| 抖動(p-p,數據到(dào)觸(chù)發) | <10ps, 典(diǎn)型(xíng)值(BSA175C, BSA260C和 BSA286C) | |
| 輸出(chū)幅度 | >300mVp-p,偏置 650mV | |
| 接口 | 50歐(ōu)姆 SMA 母頭(tóu) | |
| 碼型啟(qǐ)動(dòng)輸入 | 邏(luó)輯電(diàn)平 | LVTTL (<0.5V 低, >2.5V 高) |
| 門限電(diàn)平(píng) | +1.2V 典(diǎn)型值(zhí) | |
| 很大(dà)非(fēi)損傷輸入電壓範圍 | –0.5V to +5.0V | |
| 很小脈(mài)衝(chōng)寬度 | 128 連(lián)續時鐘周期(qī) | |
| 很(hěn)大重復(fù)率 | 512 連續(xù)時(shí)鐘周期(qī) | |
| 接口(kǒu) | SMA 母頭, >1K 歐(ōu)姆阻(zǔ)抗,端接到(dào)0V | |