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美國(guó)International Light ILT2400輻(fú)照計(jì)可自(zì)由配(pèi)置光(guāng)探(tàn)測(cè)器(qì)，輸入(rù)光學(xué)器件，過(guò)濾片(piàn)和校準片，用於測量Watts瓦(wǎ)特， Lumens流明， Watt/cm2瓦特(tè)/平方(fāng)厘(lí)米， lux勒(lè)克(kè)斯和(hé)foot-candles等(děng)光學參數。測(cè)量(liáng)速度(dù)高(gāo)達100μs，內(nèi)置(zhì)可(kě)充電(diàn)電池(chí)持續長(cháng)達8小時(shí)，4.3寸觸摸屏顯示，可(kě)橫向和縱(zòng)向觀看(kàn)，以(yǐ)手持(chí)價格研(yán)究(jiū)質(zhì)量
關鍵字：ILT2400,XSD340B,美(měi)國International Light ILT2400,ILT2400輻照計(jì),ILT2400照度(dù)計(jì)
美國(guó)International Light
美(měi)國International Light ILT2400+XSD340B 輻(fú)照計/照(zhào)度計(jì)產品(pǐn)簡(jiǎn)介：
美(měi)國(guó)ILT2400+XSD340B輻照(zhào)計365nm波長(cháng)高能量曝(pù)光測量
ILT2400輻(fú)照計以手持(chí)價格提(tí)供(gōng)研究(jiū)級質(zhì)量(liáng)，采(cǎi)用(yòng)可(kě)分離探頭(tóu)設計(jì)，具有8個量級的(dí)動態測量(liáng)範(fàn)圍，測(cè)量速(sù)度(dù)可達100μs，內置可(kě)充電電池持續(xù)長(cháng)達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可(kě)橫向和(hé)縱(zòng)向(xiàng)查(chá)看讀數或(huò)圖(tú)形曲綫(xiàn)。XSD340B探頭響(xiǎng)應(yīng)波段326-401 nm，校(xiào)準(zhǔn)於365nm波(bō)長，可(kě)測量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源(yuán)輻照(zhào)強(qiáng)度。ILT測(cè)光(guāng)表和探(tàn)測器均(jūn)帶NIST可溯源ISO17025認證校準(zhǔn)報(bào)告(gào)。
國際光(guāng)學International Light ILT2400和XSD340B光(guāng)刻膠測量(liáng)係統(tǒng)用於(yú)326-401nm波(bō)段紫(zǐ)外綫(xiàn)輻(fú)照度監測，校(xiào)準(zhǔn)於(yú)365nm光阻劑作用光譜，*確地知(zhī)道(dào)光(guāng)致抗(kàng)蝕(shí)劑曝(pù)光的程(chéng)度(dù)，可(kě)測量高達(dá)30W/cm2 高(gāo)能(néng)量強度，用於PCB印(yìn)刷電路板(bǎn)光及(jí)半(bàn)導體(tǐ)業。
美國International Light ILT2400+XSD340B 輻(fú)照計(jì)/照(zhào)度計(jì)探(tàn)頭參數(shù)：
ILT XSD係列光(guāng)刻(kè)膠輻照(zhào)度探頭
ILT2400+XSD140A：量程(chéng)4e-8 to 0.7 W/cm2，響(xiǎng)應(yīng)波(bō)段320-475 nm，校(xiào)準(zhǔn)於(yú)405nm波長
ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，響應波段(duàn)320-475 nm，校準(zhǔn)於(yú)405nm波長(cháng)
ILT2400+XSD140B：量(liáng)程(chéng)7e-8 to 1 W/cm2，光譜(pǔ)範圍(wéi)326-401 nm，*心(xīn)波長365nm
ILT2400+XSD340B：量程(chéng)3e-6 to 30W/cm2 高強(qiáng)度，測量光譜326-401 nm，校準(zhǔn)於365nm
美國International Light Photoresist光阻劑(jì)曝(pù)光輻照(zhào)度測光表(biǎo)探(tàn)頭選型(xíng)
輻(fú)照計/探頭組(zǔ)合(hé) | 響應(yīng)波(bō)長頻譜 | 測(cè)量範(fàn)圍 | 類型及(jí)應(yīng)用 |
ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm² | 台(tái)式(shì)，Photoresist光(guāng)刻膠/光阻材(cái)料(liào)， |
ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手(shǒu)持式(shì)，Photoresist光(guāng)刻(kè)膠(jiāo)/光阻(zǔ)劑，同上 |
ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持(chí)式，Photoresist光刻/光阻劑， |
ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm² | 台式，Photoresist光(guāng)刻(kè)/光阻劑(jì)，同上(shàng) |
ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm² | 手(shǒu)持(chí)式(shì)，Photoresist光刻(kè)/光阻劑(jì)， |
ILT2400, XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm² | 同(tóng)上，大(dà)功(gōng)率高強度(dù)輻照(zhào)探(tàn)頭 |
ILT5000, SED033/B/W | 326-401 nm | 3e-10 ~ 0.2 W/cm² | 台(tái)式，Photoresist光刻(kè)/光(guāng)阻(zǔ)劑， |
ILT2400, SED033/B/W | 326-401 nm | 2e-8 ~ 0.2 W/cm² | 手持(chí)式，同上(shàng) |
ILT1700, SED033/B/W | 326-401 nm | 5e-9 ~ 0.5 W/cm² | 台(tái)式，同(tóng)上 |
ILT1000/B/W | 326-401 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，同(tóng)上 |
ILT2400, XSD140B | 326-401 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm² | 手持式，Photoresist光(guāng)刻/光(guāng)阻劑， |
ILT2400, XSD340B | 326-401 nm | 2e-6 ~ 30 W/cm² | 手(shǒu)持式(shì)，Photoresist光刻(kè)膠(jiāo)/光阻劑(jì)，高(gāo)強度測量 |
ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式，超薄傳(chuán)感器， |
另(lìng)有UV固(gù)化測(cè)量(liáng)係(xì)統ILT800傳(chuán)送(sòng)帶(dài)式紫(zǐ)外(wài)綫固(gù)化(huà)設(shè)備(bèi)曝光量測量(liáng)，範(fàn)圍(wéi)5e-3 ~ 40 W/cm2；LT2400+XSD340AT7 320-475 nm，校(xiào)準(zhǔn)於405nm*心波長，可測(cè)輻照強(qiáng)度(dù)範圍高達(dá)60 W/cm²。ILT紫外殺菌(jūn)測(cè)光(guāng)係統(tǒng)ILT2400+SED254/QT，手持式(shì)，低可(kě)見度(dù)環(huán)境(jìng)，高功(gōng)率紫(zǐ)外(wài)綫強度(dù)應(yīng)用(yòng)；ILT2400+SED185/NS185校(xiào)準(zhǔn)於185nm，臭氧(yǎng)/殺(shā)菌，光解廢(fèi)氣，水處(chǔ)理(lǐ)行業(yè)。
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