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  • 美國AEMC 5070便(biàn)攜式(shì)可(kě)編程(chéng)兆歐表(biǎo)

美(měi)國(guó)AEMC 5070便攜式(shì)可編(biān)程兆(zhào)歐表(biǎo)

美(měi)國(guó)AEMC 5070便攜式可編程(chéng)兆歐表(biǎo)直接測(cè)量(liáng)和(hé)顯示阻力(lì),測試電壓,運(yùn)行(háng)時(shí),電(diàn)容(róng)和漏電(diàn)流,可調節(jié)和(hé)可編(biān)程(chéng)測試電壓40至5100V。

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產品詳情

美國AEMC 5070便攜(xié)式(shì)可編(biān)程(chéng)兆歐(ōu)表直接測量和顯(xiǎn)示阻力(lì),測試電壓,運行(háng)時(shí),電容和(hé)漏電流,可(kě)調節和可(kě)編(biān)程(chéng)測試電壓40至(zhì)5100V。


美(měi)國(guó)AEMC 5070便攜(xié)式可編(biān)程(chéng)產品特(tè)點:

測試(shì)電(diàn)壓(yā)500V, 1000V, 2500V,5000V

絕(jué)緣(yuán)測量從(cóng)10kΩ 至10 TΩ

可(kě)調節和可(kě)編(biān)程測試電壓(yā)40 至(zhì) 5100V

可編(biān)程(chéng)的溫度補償的(dí)電阻(zǔ)讀數(shù)

DAR的自(zì)動計(jì)算(suàn),PI和(hé)DD值

直接(jiē)測量和(hé)顯示阻(zǔ)力(lì),測試(shì)電壓,運行(háng)時(shí),電容和(hé)漏電(diàn)流

顯(xiǎn)示(shì)電(diàn)阻(zǔ),測(cè)試電(diàn)壓和運(yùn)行時間

可(kě)編程測試運(yùn)行時間(jiān)和PI比(bǐ)率(shuài)

報警功能

顯示自動放(fàng)電和(hé)放(fàng)電電(diàn)壓

大型雙顯示(shì)器隨顯示(shì),電壓和測(cè)量(liáng)

堅(jiān)固耐用的雙(shuāng)重(zhòng)防(fáng)風(fēng)雨攜帶箱(xiāng)

RS-232接口直接打(dǎ)印(yìn)結果界麵

128 kb內(nèi)存存儲現場試驗數據(jù)

電(diàn)腦遠程(chéng)操作

包(bāo)括DataView軟件


美國AEMC 5070便攜式可編(biān)程兆歐(ōu)表(biǎo)產品(pǐn)應(yīng)用:

測試(shì)絕緣電纜(lǎn),變壓(yā)器,馬(mǎ)達,發電(diàn)機,絕(jué)緣(yuán)體和(hé)綫(xiàn)路(lù)安裝(zhuāng)

高(gāo)阻或吸(xī)收(shōu)測試

發現閱讀測(cè)試

定時電阻測量

介(jiè)電(diàn)吸收(shōu)比率(DAR)和*化指(zhǐ)數(PI)測試(shì)

多(duō)層絕緣(yuán)測(cè)試(shì)(DD)

測試舊或水損壞(huài)設施長時(shí)間運(yùn)行

電機絕緣電阻(zǔ)測(cè)量(liáng)

電腦控製(zhì)生產綫測試

預(yù)見性維(wéi)護將(jiāng)結果存儲在電腦的(dí)趨勢分析

用(yòng)戶(hù)可(kě)選擇(zé)的電壓(yā)測試提供特定於(yú)應(yīng)用程序(xù)的測(cè)試



美國AEMC 5070便攜式(shì)可(kě)編程兆(zhào)歐表(biǎo)技(jì)術參數(shù):

美國(guó)AEMC 5070便(biàn)攜式(shì)可編(biān)程兆歐(ōu)表1.png

美國 AEMC便(biàn)攜式兆歐計選(xuǎn)型參考:

美國 AEMC便攜(xié)式兆(zhào)歐計(jì)選(xuǎn)型(xíng)參(cān)考.png