日本(běn)KETT LE-373磁感應膜厚計采(cǎi)用電磁感應(yīng)測試(shì)原理(lǐ)無損測試(shì)磁性(xìng)基材(鐵(tiě)或鋼(gāng))上的非(fēi)磁性(xìng)塗鍍層的(dí)厚度，可(kě)將測(cè)試數據(jù)導(dǎo)入電腦或直接通過外接打(dǎ)印機(jī)打印。

日本KETT LE-373磁(cí)感應膜厚(hòu)計產品簡介：

LE-373型電磁(cí)式(shì)膜(mó)厚計采(cǎi)用電磁(cí)感應測(cè)試(shì)原(yuán)理(lǐ)無(wú)損(sǔn)測試(shì)磁(cí)性(xìng)基材(鐵或(huò)鋼)上的非磁性(xìng)塗鍍層(如(rú)：油漆(qī)，塑(sù)料，樹脂(zhī)，橡(xiàng)膠，琺(fà)琅，鋅(xīn)，鉻，錫，銅(tóng)，鋁，其他(tā))的(dí)厚(hòu)度。可將(jiāng)測(cè)試(shì)數據(jù)導入電腦或直(zhí)接(jiē)通(tōng)過外(wài)接(jiē)打(dǎ)印(yìn)機打(dǎ)印(yìn)。

LE-373型(xíng)電(diàn)磁式(shì)膜厚計為(wéi)LE-370型升(shēng)級版：升級部分(fēn)為數據(jù)存儲有(yǒu)原理的3000個加大為39000個(gè);資料(liào)傳輸(shū)速度(dù)更(gēng)快;管理軟件的升級(jí)。

測(cè)試(shì)原理圖(tú)

日本(běn)KETT LE-373磁(cí)感(gǎn)應(yīng)膜厚計技術(shù)參數：

測試方法：電磁感應(yīng)

應(yīng)用：磁(cí)性(xìng)基(jī)材(鐵(tiě)或鋼)上(shàng)的非(fēi)磁(cí)性塗鍍(dù)層(céng)

測試範圍：0-2500μm或99.0mils

測試精度(dù)：<50 µm ± 1µ m，50 µm to <1000 µm ± 2%，≥ 1000 µm ± 3%

分辨(biàn)率(shuài)：0.1µm (<100µm), 1.0µm (≥100µm)

數(shù)據(jù)存(cún)儲(chǔ)：大約 39000 個

應用存(cún)儲： 100 種校(xiào)準曲綫

符合標準：JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5

功(gōng)能：多達(dá)16種(zhǒng)的功能(néng)設置

測試探頭(tóu)：點(diǎn)觸式(shì)(LEP-J)

顯(xiǎn)示方式：LCD數字顯(xiǎn)示器，帶背光(guāng)

外(wài)接(jiē)輸出(chū)：PC(USB或RS-232C)或者打(dǎ)印(yìn)輸出 (RS-232C)

供電(diàn)電(diàn)壓(yā)：1.5 ("AA" 鹼(jiǎn)性(xìng)電池(chí)) x 4

電(diàn)源(yuán)功(gōng)率(shuài)：80mW (背光(guāng)燈(dēng)關時)

電(diàn)池(chí)壽命：100 小時(shí)(背光(guāng)燈(dēng)關時連續操(cāo)作)

操作環(huán)境：0-40℃

大小重量(liáng)：75(W) x 145(D) x 31(H) mm, Net 0.34 kg