使用(yòng)途(tú)徑(jìng)

　　它(tā)主要用於在(zài)實驗室(shì)條(tiáo)件下(xià)測量(liáng)紡(fǎng)織原料和成品(pǐn)(包括(kuò)纖維，紗綫，織物(wù)，地毯(tǎn)和裝飾織物(wù))的靜電性(xìng)能(néng)，也(yě)可用於(yú)測(cè)量(liáng)紙張，橡膠，塑料(liào)和復合(hé)板等其他(tā)片(piàn)材和板材(cái)的靜電(diàn)性(xìng)能(néng)。

　　1.樹(shù)脂產品(pǐn)的(dí)成型(xíng)，膠卷(juàn)加工等(děng)。

　　2.集成電路(lù)板(bǎn)印(yìn)刷(shuā)。

　　3.電子元(yuán)件(jiàn)的(dí)靜電放(fàng)電保(bǎo)護。

　　4.光機及*密零(líng)件(jiàn)的(dí)除塵，除電。

　　有(yǒu)關注意事項

　　1.測量前，首先檢(jiǎn)查電源是(shì)否符合要求，儀(yí)器(qì)外(wài)殼(包(bāo)括(kuò)探(tàn)頭外的屏(píng)蔽管)是否(fǒu)接(jiē)地良好，儀(yí)器清理幹(gān)淨後才能進(jìn)行測試。

　　2.測試(shì)探頭應防止測(cè)試距離(lí)的變化(huà)導(dǎo)致股(gǔ)東(dōng)垂直於(yú)被(bèi)測帶電物體(tǐ)表(biǎo)麵的(dí)空間(jiān)位(wèi)置(zhì)出(chū)現(xiàn)較(jiào)大的(dí)測試(shì)誤差(chà)(根(gēn)據儀器說明中規(guī)定的測(cè)試距(jù)離(lí))。為了(liǎo)避免被(bèi)測(cè)帶電體與(yǔ)探頭外殼之(zhī)間產生火花放電(diàn)，在(zài)開始測量(liáng)時(shí)，探頭*須遠(yuǎn)離(遠(yuǎn)離(lí)帶(dài)電(diàn)體)並逐漸靠近帶電體。

　　3.測試表麵(miàn)電(diàn)位時(shí)，帶(dài)電體表麵(miàn)應(yīng)離(lí)接(jiē)地體(tǐ)足(zú)夠(gòu)遠。如果(guǒ)帶電體是(shì)薄膜或(huò)薄(báo)膜，背(bèi)麵靠近接地體(tǐ)，當(dāng)探頭移動(dòng)到(dào)接(jiē)地(dì)體(tǐ)附近時(shí)，由於(yú)局部(bù)電(diàn)荷的感(gǎn)應(yīng)集(jí)中(zhōng)，存在(zài)空間放電或表(biǎo)麵(miàn)放(fàng)電(diàn)的(dí)危(wēi)險。

　　4.帶(dài)電體被測部(bù)分為大平板(bǎn)時，測量值更準確，但(dàn)當帶電體被測表(biǎo)麵(miàn)有(yǒu)一定曲率(shuài)半徑時(shí)，測量(liáng)值與實際(jì)電(diàn)位值相(xiāng)差(chà)較(jiào)大。

　　5.應考(kǎo)慮(lǜ)儀器(qì)自身(shēn)特性(xìng)對測(cè)試精度(dù)的影(yǐng)響(xiǎng)，使用(yòng)前應(yīng)定期(qī)進行校(xiào)準。

　　6.探頭(tóu)的(dí)屏蔽深度對(duì)測試精度有一定的(dí)影(yǐng)響。感應靜(jìng)電場測試儀本質上(shàng)是(shì)測(cè)試(shì)被測帶電體的局(jú)部(bù)電場(cháng)，因此(cǐ)需(xū)要盡量減(jiǎn)小外部電場(cháng)對(duì)測試信(xìn)號的(dí)幹(gān)擾和影響(xiǎng)。通(tōng)常的方(fāng)法是將這種(zhǒng)儀(yí)器(qì)及(jí)其探(tàn)頭安(ān)裝(zhuāng)在接(jiē)地屏蔽(bì)殼中(zhōng)。很明(míng)顯，探頭(tóu)的(dí)外屏蔽套太深，會(huì)降低(dī)儀(yí)器的測試精度，容易受到外部電場的(dí)影響(xiǎng)。

　　7.通過(guò)測(cè)試(shì)物體(tǐ)表(biǎo)麵(miàn)電位(wèi)得(dé)到(dào)的值(zhí)可(kě)以(yǐ)作為(wéi)定性(xìng)參考(kǎo)，在(zài)實際工作中由(yóu)於各(gè)種(zhǒng)因(yīn)素難(nán)以(yǐ)達到準(zhǔn)確(què)測(cè)量。

　　8.通常電子行(háng)業使(shǐ)用的靜電(diàn)電(diàn)壓表要(yào)考(kǎo)慮測(cè)試精度，要能測(cè)試(shì)10v的(dí)靜電(diàn)電壓(yā)。