數字電橋(qiáo)是(shì)一(yī)種(zhǒng)能夠測量電(diàn)感，電(diàn)容，電(diàn)阻(zǔ)，阻抗的儀器(qì)，常(cháng)被用於(yú)半(bàn)導(dǎo)體元件(jiàn)：電(diàn)容器(qì)，電感(gǎn)器(qì)，磁芯(xīn)，電(diàn)阻器(qì)，變壓器，芯片(piàn)組(zǔ)件(jiàn)和(hé)網絡元(yuán)件(jiàn)等的(dí)阻抗參數測量(liáng);其(qí)它(tā)元(yuán)件：印製(zhì)電路(lù)板，繼電(diàn)器，開關(guān)，電纜，電(diàn)池(chí)等(děng)的阻(zǔ)抗(kàng)評(píng)估;介質(zhì)材料：塑料(liào)，陶(táo)瓷和(hé)其它材(cái)料(liào)的介(jiè)電(diàn)常(cháng)數(shù)的(dí)損耗(hào)角(jiǎo)評估(gū)等。今(jīn)天為大家講(jiǎng)解的是(shì)LCR數(shù)字電(diàn)橋(qiáo)常(cháng)見問題的解決(jué)辦(bàn)法(fǎ)。

　　問(wèn)題(tí)1：怎(zěn)樣(yàng)選擇測試(shì)速度(dù)?

　　一般來(lái)說(shuō),測(cè)試速(sù)度是以犧牲(shēng)測試(shì)精(jīng)度(dù)為代價的,速(sù)度越快,精(jīng)度越差(chà),讀數穩定性差,有效(xiào)位數變(biàn)少(shǎo).如果要測(cè)試精度(dù),一般(bān)選(xuǎn)擇慢速(sù),要(yào)考慮測(cè)試(shì)速度和(hé)測試精度(dù)就選擇中速(sù).

　　問題2：什麼是負載校準,負(fù)載(zǎi)校準應(yīng)注意哪(nǎ)些?

　　負載(zǎi)校準(zhǔn)是一種(zhǒng)的*級(jí)的(dí)儀器(qì)校(xiào)準(zhǔn)方法(fǎ),可以使儀(yí)器在(zài)高(gāo)於(yú)儀(yí)器(qì)原有準確(què)度的(dí)基(jī)礎(chǔ)上(shàng)測(cè)量元(yuán)件.統一(yī)現場所有(yǒu)LCR數(shù)字電(diàn)橋的(dí)測試(shì)數據(jù).使用負載校準(zhǔn)可(kě)以使(shǐ)儀(yí)器(qì)在更高(gāo)精(jīng)度(dù)下測試.當有(yǒu)更(gēng)準確(què)的元件並(bìng)需對同(tóng)規(guī)格元件進行更高(gāo)準確度的測量(liáng).

　　問題3：測試(shì)電容器漏電流時(shí),測(cè)試時間(jiān)如何設(shè)定(dìng)?

　　生產綫(xiàn)上(shàng)幾(jī)乎(hū)不可(kě)能(néng)按標準(zhǔn)的1分鐘(zhōng)來設定(dìng)測試(shì)時(shí)間,一(yī)般是用抬(tái)高(gāo)漏(lòu)電流的設(shè)定(dìng)值(zhí)來相(xiāng)應(yīng)縮短測試(shì)時(shí)間,具體的比(bǐ)例關係由各企(qǐ)業根據自己的(dí)經(jīng)驗公式來確定,一般設定的充(chōng)電(diàn)時(shí)間都(dū)在(zài)10秒以(yǐ)內(大容(róng)值(zhí)電(diàn)容和多(duō)個電容同時充電(diàn)的(dí)情況除(chú)外(wài)).

　　LCR數(shù)字電橋在(zài)被測(cè)元件接入(rù)時,接入軸(zhóu)向(xiàng)引(yǐn)綫(xiàn)元件時(shí),為避(bì)免扭(niǔ)折引綫,可采用軸(zhóu)向轉接(jiē)頭(tóu),先(xiān)把這兩(liǎng)個(gè)配件(jiàn)分別插入測試夾的(dí)兩(liǎng)端,再(zài)將(jiāng)其間距調正到適合元件測(cè)量(liáng)的(dí)位置(zhì),然(rán)後便將軸向引(yǐn)綫(xiàn)元件插(chā)入兩端的配件夾(jiā)內(nèi).